EMS電鏡耗材通過微孔可觀察到碳顆粒的晶面間距，膜上形成的多晶金團簇，在這些團簇的邊緣可分辨出晶格，此樣品還可以通過標注鍍金膜上孔內(nèi)碳的沉積率來測定電鏡的混染率。帶有乳膠狀顆粒的網(wǎng)狀格柵，既可以利用格柵間距進行放大倍數(shù)校正，又可通過測量格柵上乳膠顆粒的大小來進行校正，特別適用于透射電鏡更高放大倍數(shù)的校正。利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質(zhì)的信息。

    掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機理，采用不同的信息檢測器，使選擇檢測得以實現(xiàn)。如對二次電子、背散射電子的采集，可得到有關物質(zhì)微觀形貌的信息，對x射線的采集，可得到物質(zhì)化學成分的信息。
    而當放大率倍數(shù)較高的時候，復雜的波動作用會造成成像的亮度的不同，因此需要專業(yè)知識來對所得到的像進行分析。通過使用TEM不同的模式，可以通過物質(zhì)的化學特性、晶體方向、電子結(jié)構(gòu)、樣品造成的電子相移以及通常的對電子吸收對樣品成像。